400-678-0788
4. 多种水分测定技术概要
测定水分含量已有多种不同测定方法,以下表格选择介绍了一些典型的测定技术及其优缺点。
烘箱法*
红外干燥法
卤素干燥法
微波干燥法
工艺过程
热失重分析法
测定方法
通过空气对气流加热,测定干燥前、后的样品质量。
通过吸收金属辐射体发出的红外辐射进行加热,在干燥过程中,连续测定样品质量。
通过吸收卤素辐射体发出的红外辐射进行加热,在干燥过程中,连续测定样品质量。
通过吸收微波进行加热。测定干燥前、后的样品质量。
优点
●参考方法
●样品受热均匀
●相同时间可以测定多个样品
●可进行大样品分析
●较短的测定时间{174}(通常为5-15分钟)
●可进行大量样品分析
●操作简单
●仪器结构紧凑
●良好的温度控制
●卓越的冷却/升温性能
●快速测定(通常为3-10分钟)
●非常快速(通常为2-5分钟)
缺点
●较长的测定时间(数小时)
●除水之外的其他物质也可能挥发
●由于需要高水平的操作,故容易引起误差
●控制困难
●不适合极低水分含量物质的测定
●中等温度控制
卡尔费休滴定法
电石法
微波光谱法
折射法*
化学方法
光谱法
光学法
用碘进行滴定,并与水发生反应。碘的消耗量与样品水分含量是成比例的。
释放水中的氢。氢体积与水体积成比例,可以通过压力变化或氢电极进行测定。
通过吸收/反射微波辐射进行测定。
通过吸收/反射红外辐射进行测定。
通过折射率进行测定。
●水选择性测定
●适合于极低水分含量
●测定时间较快
(15-30分钟)
●极短的测定时间(小于1分钟)
●可在线测定
●快速测定过程
●易于操作
●可移动使用
●需要试剂和实验室
●湿化学工艺(需由经过培训的专业人员操作)
●容易产生错误操作
●需要试剂
●需对每一个具体物质进行校准
●干扰因素:体积密度和颗粒大小
●仅能测定表面水分
●干扰因素:温度和颗粒大小
●仅适用于少数物质(例如:糖溶
液)
*梅特勒-托利多可提供相关产品。
下面为梅特勒卤素快速水分测定仪的图片